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禾苗E3-3D三維定位鍍層測(cè)厚光譜儀

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更新時(shí)間：2023-03-18 11:34:14瀏覽次數(shù)：528次

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中山利豐精密測(cè)量?jī)x器有限公司

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E3是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，專門用于鍍層厚度檢測(cè)；其核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過(guò)國(guó)內(nèi)外同類儀器，特別針對(duì)大件異形不平整樣品，無(wú)需拆分，直接測(cè)試即可達(dá)到精確的測(cè)試效果

詳細(xì)介紹

● 根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。

● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。

● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線

● 輻射標(biāo)志警示

● 儀器經(jīng)第三方檢測(cè)，X射線劑量率符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》

硬件技術(shù)

● X射線下照式，激光對(duì)焦可調(diào)樣品倉(cāng)，對(duì)于異形不平整樣品，無(wú)需拆分打磨，可直接測(cè)試

● 模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響，提高元素分辨率

● 最小光斑0.2mm，可針對(duì)各種樣品中的小測(cè)試點(diǎn)精確定位，避免材質(zhì)干擾，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確

● 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；設(shè)計(jì)

● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)