X熒光測厚儀 測量速度快 可靠性高 使用方便

鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

鍍層測厚儀特點

實用特點一：0.5秒就可以無損測量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動識別測量的基材。

實用特點二：市面上的鍍層測厚儀，在使用時都是需要校準的，但林上的鍍層測厚儀LS223，無需校準，只需凋零，儀器調零完畢后即可開始測量。

實用特點三：儀器只有一個按鍵，省去繁瑣操作，測量更加的簡單。

實用特點四：測頭采用真正的紅寶石，非常的耐磨和耐腐蝕，可以保證鍍層測厚儀LS223長久有效的使用。

實用特點五：探頭采用了的數字探頭，這種探頭不容易收到干擾，而且還提供優良的測試精度，即使溫度變化也不受影響。

實用特點六：有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm，F3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用，特別適用于大厚度的涂層檢測。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法：

1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置，保持探頭的穩定。

2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調零完畢。

4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數值與標準測試片的誤差范圍之內，則說明儀器可以正常使用了。

鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F3N3的探頭，厚可以測到3mm。

在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

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