IntelliSEM EPAS 智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)

自動(dòng)、快速、功能*的環(huán)境顆粒物表征分析

RJ Lee Group 簡(jiǎn)介：

       RJ Lee Group以者的身份服務(wù)于環(huán)境科學(xué)、材料表征、法醫(yī)工程、信息管理等領(lǐng)域，并提供創(chuàng)新解決方案，以科學(xué)專長(zhǎng)、儀器、技術(shù)、合作精神激發(fā)研究并解決復(fù)雜問(wèn)題。除了實(shí)驗(yàn)室和咨詢業(yè)務(wù)，RJ Lee Group擁有長(zhǎng)達(dá)40年的持續(xù)研發(fā)、使用掃描電鏡經(jīng)驗(yàn)，形成一套準(zhǔn)確、可靠、直觀的IntelliSEM軟件系統(tǒng)，其經(jīng)驗(yàn)的廣度與深度無(wú)人匹敵，IntelliSEM中凝聚了大量的計(jì)算機(jī)控制掃描電鏡系統(tǒng)的專業(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。

系統(tǒng)概要：

       RJLee實(shí)驗(yàn)室（RJ Lee Group）研發(fā)的智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)（IntelliSEM EPAS，Enviromental Particle Analysis System）將智能控制技術(shù)和專業(yè)數(shù)據(jù)分析計(jì)算方法與掃描電鏡-能譜儀（SEM-EDS）相結(jié)合，可以自動(dòng)、準(zhǔn)確、快速地對(duì)環(huán)境樣品中的大批量單顆粒進(jìn)行表征分析，為用戶提供豐富的專業(yè)軟件工具，具備對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化分析、挖掘與管理的*功能。 

       IntelliSEM EPAS系統(tǒng)的獨(dú)特技術(shù)優(yōu)勢(shì)在于兼具分析廣度和深度于一體，具備每小時(shí)分析數(shù)萬(wàn)個(gè)單顆粒的快速分析時(shí)間效率，完整獲取和記錄每個(gè)顆粒物的幾何形狀、能譜以及數(shù)字影像信息，據(jù)此，可以較高的統(tǒng)計(jì)置信度獲得環(huán)境樣品的整體特征，并深入探究每個(gè)單顆粒的細(xì)節(jié)特征。

系統(tǒng)應(yīng)用：

* PM10、PM2.5、PM10-2.5、超細(xì)顆粒物的表征研究；

* 揚(yáng)塵研究；

* 環(huán)境顆粒物中金屬的識(shí)別；

* 環(huán)境顆粒物中飛灰的識(shí)別；

* 碳顆粒物（煤煙、生物、煤）形態(tài)研究；

* 顆粒物長(zhǎng)距離傳輸研究；

* 土壤中金屬的生物可利用率評(píng)估；

* 點(diǎn)源和無(wú)組織面源排放特征的研究；

* 顆粒物源解析（受體模型）研究；

* UNC被動(dòng)采樣器樣品的分析；

系統(tǒng)特點(diǎn)：

* 為環(huán)境顆粒物分析量身定做的軟件包；

* 的顆粒物分析功能，快速獲取大量單顆粒物的表征分析數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果；

* 智能化的掃描電鏡-能譜儀分析操作：

> 一鍵選擇設(shè)置分析參數(shù)：亮度/對(duì)比度、聚焦、閾值等，無(wú)需用戶干預(yù)；

> 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、調(diào)準(zhǔn)儀器，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡和能譜儀的全自動(dòng)化分析運(yùn)行；

> 自動(dòng)存儲(chǔ)每個(gè)顆粒物的圖像、光譜、測(cè)量數(shù)據(jù)；

> 對(duì)X射線檢測(cè)器進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)和性能檢測(cè)；

> 采用圖像分析技術(shù)進(jìn)行顆粒物快速檢測(cè)和精確測(cè)量；

> 采用統(tǒng)計(jì)算法進(jìn)行瞬時(shí)元素識(shí)別和定量；

> 顆粒物分析數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)分類、排序；

* 遠(yuǎn)程控制和遠(yuǎn)程分析操作；

* 無(wú)縫控制和遠(yuǎn)程再定位特定的顆粒以便進(jìn)一步的詳盡分析；

* 利用IntelliSEM工作臺(tái)對(duì)顆粒物分析數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總處理/可視化“后分析”；

> 進(jìn)行“離線”電子顯微分析；

> 對(duì)已存儲(chǔ)的顆粒物圖像/光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理和顯示圖表；

> 在樣品總覽圖像上，以交互式操作方式顯示顆粒物的全部分析數(shù)據(jù)；

系統(tǒng)組成:

      勘察者——在線數(shù)據(jù)/圖像采集與分析模塊。其功能是實(shí)現(xiàn)對(duì)掃描電鏡（SEM）和X射線能譜儀（EDS）的全自動(dòng)控制，使用智能算法快速大面積掃描樣品區(qū)域，并精細(xì)測(cè)定每個(gè)顆粒物的邊界。在對(duì)顆粒物幾何尺寸進(jìn)行精確測(cè)量的基礎(chǔ)上，“勘察者”收集和存儲(chǔ)每個(gè)顆粒物的高倍率數(shù)字影像，依據(jù)能譜分析數(shù)據(jù)計(jì)算單顆粒的化學(xué)元素組成，并將原始能譜數(shù)據(jù)和處理結(jié)果存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫(kù)中。“勘察者”的智能算法能夠保證的數(shù)據(jù)采集時(shí)間和分辨率，以滿足精確測(cè)量和快速分析的要求。“勘察者”有兩種操作模式：“專家模式”和“一鍵模式”，前者允許專業(yè)用戶指定和微調(diào)數(shù)據(jù)采集的各參數(shù)選項(xiàng)，后者則為用戶提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)設(shè)置方案，限度地簡(jiǎn)化了用戶操作。

      工作臺(tái)——數(shù)據(jù)匯總處理及可視化“后分析”模塊。在工作臺(tái)上，可以將“勘察者”采集的原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為用戶需要的分析結(jié)果，并通過(guò)豐富的表格、圖形、影像展示出來(lái)，以更好地解釋和理解數(shù)據(jù)。平臺(tái)提供的工具包括：表單化的表格——展示每個(gè)單顆粒的所有信息；總覽圖——將所有的圖像、幾何和能譜數(shù)據(jù)等融合拼接結(jié)合為單一的多層的蒙太奇整體樣品視圖；系列化的圖形工具——生成各種兩相、三相圖及數(shù)據(jù)表；查詢和分類——便于將顆粒物分類，用于研究和制作報(bào)告。“工作臺(tái)”可安裝于任何可以訪問(wèn)數(shù)據(jù)庫(kù)的電腦上，用戶可通過(guò)網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程訪問(wèn)和處理樣品分析數(shù)據(jù)。“工作臺(tái)”的功能之*，就如同在筆記本電腦上安裝了一個(gè)掃描電鏡-能譜儀系統(tǒng)。

      數(shù)據(jù)庫(kù)/圖像存儲(chǔ)——存儲(chǔ)來(lái)自“勘察者”所有數(shù)據(jù)的大腦。將*的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)庫(kù)與網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)相結(jié)合，任何安裝有“工作臺(tái)”的計(jì)算機(jī)都可以在聯(lián)網(wǎng)狀態(tài)下調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)中的全部數(shù)據(jù)和圖像，IntelliSEM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法靈活而*-支持多個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)，并且該結(jié)構(gòu)可容納幾乎無(wú)的數(shù)據(jù)，這種方法還有助于高效的數(shù)據(jù)分級(jí)備份。

IntelliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品分析流程：

* 掃描電鏡獲取的灰度影像用于檢出顆粒物；

* 生成每個(gè)粒子的單顆粒影像；

* 對(duì)每個(gè)單顆粒進(jìn)行45次箱形測(cè)量，得到90個(gè)直徑數(shù)據(jù)；

* 進(jìn)行能譜（EDS）測(cè)量獲得單顆粒的元素組成；

* 完成分析操作后，在“工作臺(tái)”上對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理；

樣品采集【UNC被動(dòng)采樣器】

     IntelliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品采集采用UNC被動(dòng)采樣器進(jìn)行，該采樣器采用北卡羅來(lái)納大學(xué)技術(shù)，主要以重力沉降的被動(dòng)采樣方式收集PM2.5、PM10、PM10-2.5 樣品。其獨(dú)特的設(shè)計(jì)非常適合用于電鏡分析。

* 技術(shù)

* 與FRM采樣器具有非常好的一致性

* 廣泛應(yīng)用* 

服務(wù)領(lǐng)域：

* 環(huán)境空氣質(zhì)量；

* 環(huán)境健康和安全；

* 顆粒物表征；

* 光學(xué)顯微鏡；

* 掃描電鏡（SEM）；

* 透射電鏡（TEM/STEM）；

* 拉曼光譜；

* FTIR；

* 冶金行業(yè)；

* 的材料學(xué)和納米技術(shù)；

* 建筑材料；

* 生物技術(shù)/醫(yī)藥；

* 刑偵/法醫(yī)；

實(shí)驗(yàn)室實(shí)力：

* 透射電鏡（TEM）/掃描電鏡（SEM）；

* 光學(xué)顯微鏡；

* 傅里葉紅外線光譜分析儀（FTIR）；

* 拉曼光譜儀；

* 氣相色譜（GC）/氣相色譜質(zhì)譜連用（GCMS）；

* 原子吸收光譜；

* 高效液相色譜（HPLC）；

* 電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）；

* 離子色譜（IC）；

* 熱重分析儀（TGA）；

* OC/EC分析儀；

* X射線衍射儀（XRD）；

* X射線熒光光譜儀（XRF）；