Flex-ANA自動力譜成像原子力顯微鏡

Flex-ANA自動力譜成像原子力顯微鏡

高起伏樣品或多個樣品自動納米機械性能分析
針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度
智能軟件自主處理測量需求
樣品高度起伏可達5mm，力譜曲線范圍Z向可達100µm

Flex-ANA自動力譜成像原子力顯微鏡系統是基于AFM的納米機械性能分析的自動解決方案.Flex-ANA專門設計用來研究各種材料的納米機械性能，特別對于細胞,組織,基因組,水凝膠與聚合物材料等，對于多個樣品或者大起伏樣品更有優勢，主要通過力譜曲線與力譜成像測量來進行直觀而自動的方式來進行。系統的主要特點集成了直觀的實驗條件設置、后處理工作流、可選硬件元件、清晰而設計新穎的控制算法. 利用圖像預覽可以在大樣品或者多個樣品上自定義測量位置，大視場范圍可覆蓋32 mm × 32 mm的樣品區域. 樣品表面的起伏在5 mm以內都可以讓系統自動進行測量!

測量過程中，通過智能的算法來協調測量頭的移動與自動化XYZ移動臺的移動(32 mm × 32 mm × 5 mm 范圍), 還可以選配一個100-µm Z向壓電掃描器用作大范圍的力譜測量. 為了適應樣品的高起伏度, 算法保持監測與優化樣品高度，根據探針位置并相應驅動所有Z向元件. 因此, 對于軟的或者粘性大的樣品, 或者不管是范圍在幾個毫米的宏觀粗糙度樣品還是幾個微米的微觀粗糙度樣品, 都可以輕松地解決.