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深圳市華顯光學(xué)儀器有限公司
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更新時(shí)間：2026-06-10 10:07:21瀏覽次數(shù)：47次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 智能制造網(wǎng)顯微鏡特點(diǎn)： EOC新推出的微分干涉相襯（DIC）作為一種特殊的分析檢驗(yàn)方法
顯微鏡特點(diǎn)：
EOC新推出的微分干涉相襯（DIC）作為一種特殊的分析檢驗(yàn)方法，
所觀察到的樣品的相對(duì)層次關(guān)系突出，呈明顯的浮雕狀、對(duì)顆粒、裂紋、
孔洞以及凸起等能做出正確的判斷，能夠判斷許多明場(chǎng)下所看不到的或難于
判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，是LCD液晶屏行業(yè)導(dǎo)電粒子壓痕、粒子爆破檢查、
晶圓研磨表面，磁頭研磨表面及硬盤表面檢測(cè)等行業(yè)的理想工具。
應(yīng)用領(lǐng)域：
BA310DIC顯微鏡是定向適用于LCD生產(chǎn)領(lǐng)域主要運(yùn)用于導(dǎo)電粒子爆破觀察，
ITO工藝檢測(cè)玻璃切割面檢測(cè)等。采用德國(guó)光學(xué)設(shè)計(jì)，配置長(zhǎng)距物鏡，
自主研發(fā)的DIC觀察組，可以干涉成像中清晰的觀察到粒子開口狀態(tài)，
廣泛使用在TFT/TP/LCM行業(yè)。
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