光耦測試儀

STO1400光耦測試儀

陜西天士立科技生產的STO1400光耦測試儀，可測試各類光耦參數，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數字光耦，線性光耦、高速光耦，等。測試參數包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導通壓降 VCE(sat)”“開關時間toff/ton”等。陜西天士立科技。

一、光耦測試儀·產品信息

產品型號：STO1400

產品名稱：光耦測試儀；

制造廠家：陜西天士立科技有限公司

主機尺寸：深305*寬280*高120(mm)

主機重量：＜5Kg

主機功耗：＜75W

環境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度：≯85%；

防護條件：無較大灰塵，腐蝕性氣體，導電粉塵等；

電網要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時間：連續。

二、光耦測試儀·產品介紹

STO1400光耦測試儀是一款布局緊湊、功能全面、界面友好、操作簡潔的單機測試儀器。專為各類光耦參數測試而設計開發，可測試各類單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數字光耦，高速光耦，線性光耦等。測試參數包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降 VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導通壓降 VCE(sat)”“開關時間”......可測具體參數數值也可以進行篩選性測試，既合格/不合格(OK/NO)。

STO1400光耦測試儀產品前面板設有“顯示屏區域”“操作按鍵區域”“接口區域”。基于飛思卡爾 16 位單片機編程的操作程序包含測試程序編輯、程序調用、數據保存、功能類型等常規設置。10 檔位分檔設計，耐壓測試電壓 1400V/可擴展，測試正向壓降和輸出電流可達 1A/可擴展

三、光耦測試儀·應用場景

1、測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）

2、失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案）

3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）

4、來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5、量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）

6、替代進口（STO1400光耦測試儀可替代同級別進口產品）

四、光耦測試儀·產品特點

※ 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方便簡單.

※ 大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.

※ 全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

※ 內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

※ 高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1400V.

※ 重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題.

※ 軟件自校準功能

※ 自動模式:自動檢測有無DUT放于測試座中,有則自動處于重復測試狀態,無則處于重復檢測狀態.

※ 手動模式：剛開始未測試時屏幕白屏屬正常現象，當測試開關按下后才自動對測試座中的DUT進行檢測測試，長按開關不松開則處于重復測試狀態,松開開關則自動停止測試。

※ 基于大規模微處理器設備,當用戶選定了設置好的型號時,在手動測試時,按下測試開關,使測試機開始執行功能檢測,自動測試過程將在STO1400的測試座上檢測DUT短路,開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試.功能測試主要保護DUT不被因型號選錯而測壞元件，

※ DUT的功能測試通過過,LCD顯示出DUT的引腳排列(P_XXX),

※ 測試方式(手動/自動)并繼續進行循環測試,顯示測試結果是否合格,并有聲光提示.

※ 在測試時,能自動識別引腳功能,并自動轉換矩陣開關進行參數測試.測試后顯示對應引腳功能號

五、光耦測試儀·測試種類及參數

5.1、可測試的光耦類型

5.2、引腳定義

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極

5.3、測試參數

(1) 正向電壓 VF

(2) 正向電流 IF

(3) 擊穿電壓 VR

(4) 反向電流 IR

(5) 輸出低電平電源電流 ICCL

(6) 輸出高電平電源電流 ICCH

(7) 使能端高電平電壓 VEH

(8) 使能端低電平電壓 VEL

(9) 使能端高電平流 IEH

(10) 使能端低電平流 IEL

(11) 輸出端高電平電壓 VOH

(12) 輸出端低電平電壓 VOL

(13) 輸出端高電平電流 IOH

(14) 輸出端低電平電流流 IOL

(15) 電流傳輸比 CTR

(16) 輸出上升時間 Tr

(17) 輸出下降時間 Tf

(18) 上升傳輸延遲時間 tpLH

(19) 下降傳輸延遲時間 tpHL

5.4、參數定義

(1) VF：IF: 光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

(2) Vce:Bv:光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

(3) Vce:Ir: 光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

(4) CTR:IF:光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

(5) CTR:Vce:光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

(6) Vsat:IF:光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。

(7) Vsat:Ic:光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。

六、光耦測試儀·技術規格

低配版·STO1400光耦測試儀

高配版·STO1400光耦測試儀

陜西天士立科技有限公司研發生產的STO1400光耦測試儀，可測試各類光耦，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數字光耦，高速光耦，線性光耦等。測試參數包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導通壓降 VCE(sat)”“開關時間toff/ton”等陜西天士立科技有限公司。